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单纳米粒径测定装置IG-1000
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IG-1000Plus 单纳米粒度测定装置
IG方法不使用散射光,所以它不受物理限制,并且它不需要输入折射率作为测量条件。因此它使得纳米粒子的测量变得简易,并具有高灵敏度,尤其是对单纳米颗粒粒子分析很有效。
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纳米颗粒测定仪器IG-1000
作为粒度仪的专业生产厂商,岛津公司新推出了划时代的单一纳米颗粒测定仪器IG-1000,并在美国伊利诺斯州芝加哥市的迈考密展览中心召开的Pictton 2009(3月8日至3月
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岛津 纳米颗粒测定仪器IG-1000
颗粒测定仪器IG-1000,并在美国伊利诺斯州芝加哥市的迈考密展览中心召开的Pictton 2009(3月8日至3月13日)展会众多产品中脱颖而出,获得“撰稿人奖”铜奖。 与
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岛津 纳米颗粒测定仪器IG-1000
产品信息 作为粒度仪的专业生产厂商,岛津公司新推出了划时代的单一纳米颗粒测定仪器IG-1000,并在美国伊利诺斯州芝加哥市的迈考密展览中心召开的Pictton 2009(3月8日至3月13
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岛津 纳米颗粒测定仪器IG-1000
产品信息 作为粒度仪的专业生产厂商,岛津公司新推出了划时代的单一纳米颗粒测定仪器IG-1000,并在美国伊利诺斯州芝加哥市的
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NanoAssemblr Ignite 脂质纳米颗粒制备系统
变混合相结合,实现了脂质纳米颗粒 (LNP) 的可控精确组装。Ignite 和 Ignite+ 可以模拟与 NanoAssemblr Blaze™ 和 GMP System 相同的大规模单元操作和工艺
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FlowCam®Nano纳米流式颗粒成像分析系统
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Particle Metrix(PMX) ZetaView® 纳米颗粒追踪分析仪
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牛津仪器 OmniProbe系列纳米操纵手
风险。具有纳米级精度的定位延长的探针寿命精细的针尖具有明确的欧姆性质为利用范德瓦尔斯力进行纳米颗粒操作制备显微探针轻松制备平面样品、侧切样品和背切样品
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